¨ CFI60-2 经过改进的光学性能
¨ 以独特的高数值孔径和长工作距离设计理念而著称的尼康 CFI60 光学系统
¨ 经过进一步改进，具有一流 的长工作距离、色差校正性能和更轻的重量。
¨ 轻松的操作 与数码相机集成
¨ 现可使用数码控制装置来检测包括物镜信息在内的显微镜信息，以及对显微镜进行电动操作，以更高效地进行观察和图像拍摄
¨ 观察方法
¨ 可支持多种观察方法：明场、暗场、偏光、微分干涉、落射荧光和双光束干涉测量等。
¨ 半导体（IC晶片）
¨ 从物镜到照明系统，LV-N系列采取了全方位的防眩光措施，确保生成明亮、高对比度的图像。
¨ 半导体（IC晶片）
¨ 采用尼康独特设计理念开发的物镜暗场照明系统可实现明亮的暗场观察，从而可对标本差异和缺陷进行高灵敏度的检测。
¨ 基板
¨ 可使用适合标本观察的标准型和高对比度型DIC插片。LV-N系列十分适合观察设备和精密模具中的细微差异等应用。
¨ 基板（焊点）
¨ LV-N系列在观察有机EL或安装的基板等具有荧光性质的标本时表现出了卓越的性能。
¨ 矿物质
¨ LV-N系列十分适合观察具有双折射性质的标本，例如：容易失真的液晶或塑料/玻璃等。
¨ 云母
¨ LV-N系列可使用Michelson(TI)和Mirau(DI)反射型双光束干涉测量法。当配合使用测微计目镜时，可在不接触标本的情况下检测和测量标本的细微差异。
